Echelle Grating 79l/mm

Echelle Grating 79l/mm

Aniq spektroskopiya, astronomik kuzatish va ilg'or analitik asboblar birlashganda eng yuqori spektral ruxsatni talab qiladigan ilovalar uchun standart diffraktsiya panjaralari ko'pincha o'z chegaralariga etadi. Jilin Juyao Technology Co., Ltd. (JYTEC) keng spektrli diapazonlarda ajoyib aniqlik va samaradorlikni ta'minlash uchun tik yonish burchagi bilan ishlab chiqilgan, yuqori samarali tekislik diffraksion panjarasi 79l/mm Echelle panjarasini taqdim etadi. Professional ishlab chiqaruvchi sifatida biz dunyodagi eng talabchan spektroskopik asboblarda asosiy dispersiv element bo'lib xizmat qiluvchi echelle panjaralarini ishlab chiqarish uchun nozik boshqaruv texnologiyasini ilg'or qoplama imkoniyatlari bilan birlashtiramiz.
Share to
So'rov yuborish
Ta'rif
Texnik parametrlar
Yo'q. Chuqurlik zichligi (chiziqlar/mm) Nominal yonish burchagi Belgilangan maydon (Y × W, mm)
JY3-002 79 63,43 daraja 25×25&50×50

 

Yuqori aniqlikdagi astronomik spektrograflarni, induktiv bogʻlangan plazma massa spektrometriyasini (ICP-MS) tizimlarini yoki lazerli sozlash platformalarini loyihalashtirasizmi, bu panjara tekisligi sizga kerakli yuqori unumdorlik va ishonchlilikni taʼminlaydi. 500㎡ ilmiy-tadqiqot ob'ektimiz va milliy{4}}darajali iste'dodlar jamoasi tomonidan qo'llab-quvvatlangan holda, biz har bir panjara bugungi kunning eng ilg'or optik tizimlari talab qiladigan qat'iy standartlarga javob berishini ta'minlaymiz.

 

Mahsulotlar xususiyatlari

 

  • Yuqori spektral ruxsat: The79 l/mma bilan birlashtirilgan truba zichligi63,43 darajanominal yonish burchagi yuqori diffraktsiya tartiblarida ishlashga imkon beradi, bu esa nozik spektral xususiyatlarni diskriminatsiya qilish uchun ideal bo'lgan ajoyib hal qilish quvvatini (tegishli konfiguratsiyalarda R > 100 000) beradi.
  • Tik yonish burchagi dizayni: The63,43 darajaolov burchagi diffraktsiya samaradorligini yuqori darajalarga jamlash uchun optimallashtirilgan bo'lib, maksimal signal--shovqin nisbatini talab qiluvchi ilovalar uchun yuqori o'tkazuvchanlikni ta'minlaydi.
  • Keng spektrli qamrov: Echelle panjaralari bir-biriga o'xshash tartiblarni ajratish uchun o'zaro dispersiya usullaridan foydalanadi, bu esa bir vaqtning o'zida keng to'lqin uzunliklari diapazonlarini bir vaqtning o'zida bir{1}}panjara soddaligi bilan qoplash imkonini beradi-ixcham, yuqori samarali spektrometr dizaynlari uchun idealdir.
  • Optimal samaradorlik uchun aniqlik qoidasi: Ilg'or boshqaruv texnikasi adashgan yorug'likni kamaytiradigan juda silliq truba profillarini yaratadi vatekis panjara diffraktsiyasisamaradorlik barcha operatsion buyurtmalar bo'yicha doimiy ravishda yuqori bo'lib qolmoqda.
  • Bir nechta o'lcham variantlari: mavjud25×25 mmva50×50 mmturli xil asboblar geometriyalari va spektral ruxsat talablarini qondirish uchun so'rov bo'yicha mavjud bo'lgan maxsus o'lchamlarga ega bo'lgan boshqariladigan maydonlar.
  • To'lqinli yuzaning ajoyib sifati: Ajoyib tekislikka ega, yuqori-sifatli substratlarda ishlab chiqarilgan, yuqori samarali spektroskopik tizimlarda-fokus va aniqlikni saqlash uchun muhim ahamiyatga ega boʻlgan minimal toʻlqin fronti buzilishlarini kafolatlaydi.
  •  

Ilova

 

Bu yuqori{0}}ravshanliktekis aks ettiruvchi panjarailg'or spektroskopik asboblar uchun muhim komponent hisoblanadi:

  1. Yuqori-Astronomiya: Astronomik spektrograflarda ekzosayyoralarni aniqlash, yulduzlar tasnifi va galaktika tuzilishini oʻrganish uchun ishlatiladi.
  2. Induktiv bog'langan plazma massa spektrometriyasi (ICP-MS): Atrof-muhit, geologik va farmatsevtika dasturlarida elementar tahlil va izotop nisbatlarini o'lchash uchun asosiy dispersiv element bo'lib xizmat qiladi.
  3. Lazerli sozlash tizimlari: Boʻyoq lazerlari, titanium{0}}saffir lazerlar va yuqori spektral tozalikni talab qiluvchi boshqa sozlanishi lazer tizimlarida toʻlqin uzunligini aniq tanlash va sozlash imkonini beradi.
  4. Samolyot panjarali monoxromator: Atom spektroskopiyasi, floresans spektroskopiyasi va Raman spektroskopiyasida qoʻllanilishi uchun ultra{0}}yuqori aniqlikni talab qiluvchi monoxromatorlar uchun ideal.
  5. Analitik kimyo: Gaz xromatografiyasi-mass-spektrometriyasi (GC-MS), suyuqlik xromatografiyasi{2}}mass-spektrometriyasi (LC-MS) va alohida spektral diskriminatsiyani talab qiluvchi boshqa analitik asboblar uchun zarur.
  6. LIDAR va masofadan zondlash: Izlangan gazlar va ifloslantiruvchi moddalarni aniq oʻlchash uchun yuqori-ravshanlikdagi atmosfera monitoringi tizimlarida qoʻllaniladi.

Issiq teglar: echelle panjarasi 79l / mm, Xitoy echelle panjarasi 79l / mm ishlab chiqaruvchilar, etkazib beruvchilar, zavod

So'rov yuborish
So'rov yuborish