| Yo'q. | Chuqurlik zichligi (chiziqlar/mm) | Nominal yonish burchagi | Belgilangan maydon (Y × W, mm) |
| JY3-002 | 79 | 63,43 daraja | 25×25&50×50 |
Yuqori aniqlikdagi astronomik spektrograflarni, induktiv bogʻlangan plazma massa spektrometriyasini (ICP-MS) tizimlarini yoki lazerli sozlash platformalarini loyihalashtirasizmi, bu panjara tekisligi sizga kerakli yuqori unumdorlik va ishonchlilikni taʼminlaydi. 500㎡ ilmiy-tadqiqot ob'ektimiz va milliy{4}}darajali iste'dodlar jamoasi tomonidan qo'llab-quvvatlangan holda, biz har bir panjara bugungi kunning eng ilg'or optik tizimlari talab qiladigan qat'iy standartlarga javob berishini ta'minlaymiz.
Mahsulotlar xususiyatlari
- Yuqori spektral ruxsat: The79 l/mma bilan birlashtirilgan truba zichligi63,43 darajanominal yonish burchagi yuqori diffraktsiya tartiblarida ishlashga imkon beradi, bu esa nozik spektral xususiyatlarni diskriminatsiya qilish uchun ideal bo'lgan ajoyib hal qilish quvvatini (tegishli konfiguratsiyalarda R > 100 000) beradi.
- Tik yonish burchagi dizayni: The63,43 darajaolov burchagi diffraktsiya samaradorligini yuqori darajalarga jamlash uchun optimallashtirilgan bo'lib, maksimal signal--shovqin nisbatini talab qiluvchi ilovalar uchun yuqori o'tkazuvchanlikni ta'minlaydi.
- Keng spektrli qamrov: Echelle panjaralari bir-biriga o'xshash tartiblarni ajratish uchun o'zaro dispersiya usullaridan foydalanadi, bu esa bir vaqtning o'zida keng to'lqin uzunliklari diapazonlarini bir vaqtning o'zida bir{1}}panjara soddaligi bilan qoplash imkonini beradi-ixcham, yuqori samarali spektrometr dizaynlari uchun idealdir.
- Optimal samaradorlik uchun aniqlik qoidasi: Ilg'or boshqaruv texnikasi adashgan yorug'likni kamaytiradigan juda silliq truba profillarini yaratadi vatekis panjara diffraktsiyasisamaradorlik barcha operatsion buyurtmalar bo'yicha doimiy ravishda yuqori bo'lib qolmoqda.
- Bir nechta o'lcham variantlari: mavjud25×25 mmva50×50 mmturli xil asboblar geometriyalari va spektral ruxsat talablarini qondirish uchun so'rov bo'yicha mavjud bo'lgan maxsus o'lchamlarga ega bo'lgan boshqariladigan maydonlar.
- To'lqinli yuzaning ajoyib sifati: Ajoyib tekislikka ega, yuqori-sifatli substratlarda ishlab chiqarilgan, yuqori samarali spektroskopik tizimlarda-fokus va aniqlikni saqlash uchun muhim ahamiyatga ega boʻlgan minimal toʻlqin fronti buzilishlarini kafolatlaydi.
Ilova
Bu yuqori{0}}ravshanliktekis aks ettiruvchi panjarailg'or spektroskopik asboblar uchun muhim komponent hisoblanadi:
- Yuqori-Astronomiya: Astronomik spektrograflarda ekzosayyoralarni aniqlash, yulduzlar tasnifi va galaktika tuzilishini oʻrganish uchun ishlatiladi.
- Induktiv bog'langan plazma massa spektrometriyasi (ICP-MS): Atrof-muhit, geologik va farmatsevtika dasturlarida elementar tahlil va izotop nisbatlarini o'lchash uchun asosiy dispersiv element bo'lib xizmat qiladi.
- Lazerli sozlash tizimlari: Boʻyoq lazerlari, titanium{0}}saffir lazerlar va yuqori spektral tozalikni talab qiluvchi boshqa sozlanishi lazer tizimlarida toʻlqin uzunligini aniq tanlash va sozlash imkonini beradi.
- Samolyot panjarali monoxromator: Atom spektroskopiyasi, floresans spektroskopiyasi va Raman spektroskopiyasida qoʻllanilishi uchun ultra{0}}yuqori aniqlikni talab qiluvchi monoxromatorlar uchun ideal.
- Analitik kimyo: Gaz xromatografiyasi-mass-spektrometriyasi (GC-MS), suyuqlik xromatografiyasi{2}}mass-spektrometriyasi (LC-MS) va alohida spektral diskriminatsiyani talab qiluvchi boshqa analitik asboblar uchun zarur.
- LIDAR va masofadan zondlash: Izlangan gazlar va ifloslantiruvchi moddalarni aniq oʻlchash uchun yuqori-ravshanlikdagi atmosfera monitoringi tizimlarida qoʻllaniladi.
Issiq teglar: echelle panjarasi 79l / mm, Xitoy echelle panjarasi 79l / mm ishlab chiqaruvchilar, etkazib beruvchilar, zavod








